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Crystsl Oscillator電路的不穩(wěn)定性因素

返回列表 來源:金洛鑫 瀏覽:- 發(fā)布日期:2019-04-15 09:52:11【

在之前的文章中提到過晶體振蕩器的電路類型,至少都有五六種,不同的電路布局帶來的效益和性能是不一樣的,那篇技術(shù)文章標題是《Oscillator技術(shù)電路類型介紹》,有興趣的用戶可以在金洛鑫舊官網(wǎng)上查到。許多生產(chǎn)廠家選擇成本比較高的石英晶體振蕩器,最主要的原因大部分都是因為它的穩(wěn)定性,比諧振器要高許多,然而在設(shè)計的過程中,也會有導致晶體振蕩器不穩(wěn)定的現(xiàn)象出現(xiàn),今天我們主要討論,那些讓振蕩器出現(xiàn)不穩(wěn)定的重要因素。

振蕩器電路類型:

振蕩器電路類型中,除了rf接地點位于不同位置之外,其中三個更常見的有源晶振電路類型,即Pierce,ColpittsClapp,由相同的電路組成。巴特勒和改良的巴特勒也相似;在每個中,發(fā)射極電流是晶體電流。門振蕩器是皮爾斯型,它使用邏輯門加電阻代替皮爾斯振蕩器中的晶體管。(某些門振蕩器使用多個門)。

Crystsl Oscillator電路的不穩(wěn)定性因素

OCXO框圖:

Crystsl Oscillator電路的不穩(wěn)定性因素

OCXO振蕩器的三個主要部分中的每一個,即晶體,維持電路和烘箱,都會導致不穩(wěn)定性。

振蕩器不穩(wěn)定性-一般表達式:

Crystsl Oscillator電路的不穩(wěn)定性因素

其中QL=諧振器的負載Q,并且d?ff)是在遠離載波頻率f的偏移頻率ff處的環(huán)路相位的小變化。環(huán)路中的系統(tǒng)相位變化和相位噪聲可以源自諧振器或維持電路。最大化QL有助于減少噪聲和維持電子器件中環(huán)境引起的變化的影響。在一個設(shè)計合理的振蕩器中,短路不穩(wěn)定性由諧振器決定,偏移頻率小于諧振器的半帶寬,并由維持電路和數(shù)量決定。從環(huán)路傳遞的功率用于更大的偏移。

維持電路的不穩(wěn)定性:

負載電抗變化-向晶體添加負載電容會改變頻率

Crystsl Oscillator電路的不穩(wěn)定性因素

示例:如果C0=5pF,C1=14fFCL=20pF,則aCL=10fF=5X10-4)導致≈1X10-7頻率變化,并且CL老化為每天10ppm導致振蕩器老化每天2X10-9。驅(qū)動電平變化:對于10MHz3SC切割,通常為每ma210-8。晶體上的直流偏壓也會導致振蕩器老化。

振蕩器不穩(wěn)定性-調(diào)諧電路

許多Oscillator Crystal包含調(diào)諧電路-抑制不需要的模式,匹配電路和濾波器。調(diào)諧電路的電感和電容的微小變化的影響由下式給出:

Crystsl Oscillator電路的不穩(wěn)定性因素

其中BW濾波器的帶寬,ff是濾波器中心頻率與載波頻率的頻率偏移,QL是諧振器的負載QQc,LcCc是調(diào)諧電路的Q,電感和電容,分別。

振蕩器不穩(wěn)定性-電路噪聲

Crystsl Oscillator電路的不穩(wěn)定性因素

其中ff是載波頻率f的頻率偏移,QL是電路中晶振的負載Q,Lckt1Hz)是ff=1Hz時的閃爍PM噪聲,t是閃爍樓層范圍內(nèi)的任何測量時間。對于QL=106Lckt1Hz=-140dBc/Hz,syt=8.3×10-14。(已達到Lckt1Hz=-155dBc/Hz。)

振蕩器不穩(wěn)定性-外部負載

如果外部負載發(fā)生變化,則反射回OSC晶振的信號的幅度或相位會發(fā)生變化。到達振蕩回路的那個信號的部分改變了振蕩相位,因此改變了頻率

Crystsl Oscillator電路的不穩(wěn)定性因素

其中G是負載的VSWR,q是反射波的相位角;例如,如果Q~106,并且隔離~40dB(即~10-4),則最差情況(100%反射)拉動為~5×10-9VSWR2時,最大牽引力降低僅為3倍。負載牽引問題在較高頻率下變得更糟,因為Q和隔離度都較低。

簡易的振蕩器電路穩(wěn)定性,通常沒有復雜的振蕩器電子高,近年來石英晶振的技術(shù)不斷突破,許多晶體制造商都研發(fā)出,比較新穎且難度大的Crystsl Oscillator電路。外圍電容,調(diào)諧電路,電路噪聲,負載電抗都是容易導致石英振蕩器不穩(wěn)定的因素,因此在設(shè)計時,工程師們都會將這幾點設(shè)置好,方便接下來的布局。

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    【本文標簽】:晶體振蕩器電路設(shè)計 Crystsl Oscillator電路類型 晶振穩(wěn)定性
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